我司反向技術(shù)研究中心可為廣大客戶提供單雙面、四至三十多層的PCB抄板、加工、改板、芯片解密、原理圖設(shè)計(jì)及BOM單制作、PCB設(shè)計(jì)、成套線路板加工一條龍服務(wù)。太陽(yáng)能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)適用于測(cè)量光伏材料在不同波長(zhǎng)光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。我們已成功完成該儀器的抄板設(shè)計(jì)方案開發(fā)，期待與廣大客戶就該項(xiàng)目真誠(chéng)合作，創(chuàng)造共同的利益空間www.pcbaok.com！
【儀器簡(jiǎn)介】
太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)即太陽(yáng)能電池（光伏材料）光譜響應(yīng)測(cè)試、量子效率QE（Quantum Efficiency）測(cè)試、光電轉(zhuǎn)換效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等。廣義來說，就是測(cè)量光伏材料在不同波長(zhǎng)光照條件下的光生電流、光導(dǎo)等。
【技術(shù)參數(shù)】
150W氙燈
光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%，可工作在斬波模式（適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽(yáng)能電池）與連續(xù)模式（適合慢響應(yīng)染料敏化電池，有機(jī)太陽(yáng)能電池www.pcbaok.com）
測(cè)試光斑尺寸： 3mm~10mm
三光柵DSP掃描單色儀
波長(zhǎng)范圍： 300nm～2000nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度： a) ±0.3nm（1200g/mm,300nm） b) ±0.6nm(600g/mm,500nm)
c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm)
掃描間隔：最小可至0.1nm
輸出波長(zhǎng)帶寬： <5 nm
多級(jí)光譜濾除裝置根據(jù)波長(zhǎng)自動(dòng)切換，消除多級(jí)光譜的影響
光調(diào)制頻率： 4 - 400 Hz
標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)尺寸： 164mmx164mm
標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器：含校正報(bào)告
偏置光源：光強(qiáng)可調(diào)，最高可大于1個(gè)太陽(yáng)常數(shù)（需選配)
樣品最大尺寸： 156mm×156mm
數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度： a) 斬波模式：2nV；b) 連續(xù)模式：100nA
測(cè)量重復(fù)精度：對(duì)太陽(yáng)光譜曲線積分重復(fù)性在±1%以內(nèi)
測(cè)試周期：?jiǎn)未螔呙?lt;1min，完整測(cè)試<5min (步長(zhǎng)5nm)
反射率測(cè)量：鏡面反射 300-1100nm(需選配）；漫反射 300-1600nm(需選配）
溫度控制：恒溫控制：25±1℃(需選配）；變溫控制：5~40℃(需選配）
3D Mapping： 156mm×156mm，100um分辨率
儀器尺寸：主機(jī)：842mm×770mm×575mm；控制柜：800mm×600mm×1300mm
【系統(tǒng)組成】
■ 系統(tǒng)包括兩個(gè)150Ｗ氙燈，分別做為探測(cè)光源和偏置光源(選配件)。
■ 采用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統(tǒng),保證良好的波長(zhǎng)準(zhǔn)確度和重復(fù)性，消除多級(jí)光譜的影響。
■ 獨(dú)特的測(cè)試光路，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)響應(yīng)度與鏡面反射率的測(cè)試．對(duì)于漫反射樣品的反射率測(cè)試，則采用積分球方式來實(shí)現(xiàn)，確保了測(cè)試的準(zhǔn)確性．探測(cè)光光斑大小從3mm至10mm可調(diào)，以適合不同尺寸的樣品測(cè)試。
■ 樣品臺(tái)采用高精度二維平移機(jī)構(gòu)，配有恒溫(或變溫）及真空吸附裝置，變溫范圍可達(dá)到5～40度。
■ 系統(tǒng)可工作于斬波模式與連續(xù)模式，斬波模式采用鎖相放大器來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集，連續(xù)模式采用高精度直流放大器來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集www.pcbaok.com。
■ 采用二維高精度電控位移臺(tái)可對(duì)電池樣品進(jìn)行Mapping掃描，
■ 專業(yè)軟件，可實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)完成響應(yīng)度、反射率、QE及IPCE的測(cè)試。并可針對(duì)不同應(yīng)用，自行設(shè)計(jì)測(cè)試流程。
【性能特點(diǎn)】
◆ 掃描光源波長(zhǎng)輸出范圍:300-2000nm
太陽(yáng)能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)不僅適合常規(guī)太陽(yáng)能電池的性能研究，而且適合各類新型近紅外太陽(yáng)能電池材料性能的研究，真正實(shí)現(xiàn)了全光譜太陽(yáng)能電池性能一體化測(cè)試。
◆ 獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì)
獨(dú)有的垂直光路設(shè)計(jì)，被測(cè)樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放，以保證測(cè)試的穩(wěn)定性，而且更適合染料敏化電池的測(cè)試。
◆ JSC模擬計(jì)算功能
◆ 時(shí)間穩(wěn)定度測(cè)試
◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺(tái)(選配件)
◆ 測(cè)試光斑大小可調(diào)，適用不同尺寸樣品的測(cè)試
◆ 基于Windows的軟件：
a) 自動(dòng)控制掃描、樣品切換、光柵切換和數(shù)據(jù)采集
b) 測(cè)量光譜響應(yīng)度、反射率、內(nèi)量子效率、外量子效率、均勻度掃描等
c) 數(shù)據(jù)導(dǎo)出及報(bào)表打印功能，數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持Office、Origin、matlab等分析軟件
◆ 多結(jié)以及多層膜電池的測(cè)試
通過改變偏置光光強(qiáng),來飽和各結(jié)太陽(yáng)能電池，分析待測(cè)結(jié)太陽(yáng)能電池量子效率。
◆ 反射率測(cè)量www.pcbaok.com
系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測(cè)試選件，提供您完整的反射率測(cè)試分析手段。
◆ 開放式偏置光路
偏置光路上預(yù)留光學(xué)元件的安裝位置，您可自由改變偏置光的條件，可用于對(duì)太陽(yáng)能電池缺陷做先期的分析。
◆ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)
適用于樣品尺寸相對(duì)固定的太陽(yáng)能電池片的量測(cè)?？缮?jí)為變溫或恒溫樣品臺(tái)。
◆ 變溫樣品臺(tái)
在不同的溫度下測(cè)量太陽(yáng)能電池電流的輸出，對(duì)太陽(yáng)能電池在實(shí)際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。
◆ 大面積太陽(yáng)能電池片(最大156x156mm)的掃描檢測(cè),二維自動(dòng)平移系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)電池樣品的各個(gè)位置做測(cè)量分析(選配件）
◆ 斬波與連續(xù)兩種測(cè)試模式，可實(shí)現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應(yīng)光電池的光譜響應(yīng)測(cè)試
太陽(yáng)能電池QE/IPCE(量子效率)測(cè)量系統(tǒng)提供斬波模式QE/IPCE測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)對(duì)多種太陽(yáng)電池的測(cè)試（DSSC, Organic, Amorphous silicon, Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs），也提供連續(xù)模式配合暗室測(cè)量光電轉(zhuǎn)換較慢的太陽(yáng)能電池材料QE測(cè)量，如染料敏化與光化學(xué)太陽(yáng)能電池材料量子效率測(cè)量。
產(chǎn)品出自：pcb抄板案例
